主要特點
利用白光干涉的非接觸式高精度精細(xì)表面紋理測量→3D形狀測量、3D粗糙度測量
高度測量精度與光學(xué)放大倍率無關(guān)
即使使用低倍率鏡頭也可進行高 Z 分辨率測量
高縱橫比測量
支持高縱橫比形狀測量,檢測不依賴于光學(xué)系統(tǒng)的數(shù)值孔徑
抗干擾振動的高魯棒性
小巧輕便
554-001
WLI-unit-003
554-002
WLI-unit-005
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青島澳海源國際貿(mào)易有限公司
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高度測量精度與光學(xué)放大倍率無關(guān)
即使使用低倍率鏡頭也可進行高 Z 分辨率測量
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